Bratislava 21. apríla (TASR) - Na metódy a algoritmy pre návrh, testovanie, spoľahlivosať a aplikácie elektronických obvodov a systémov bola zameraná medzinárodná konferencia IEEE DDECS 2008, ktorá sa uskutočnila v týchto dňoch v Bratislave.
Podujatie sa od roku 1998 koná každoročne v krajinách V4 a tento rok ho usporiadal Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied (ÚI SAV). Na konferencii sa zúčastnilo 120 odborníkov z univerzitných a industriálnych inštitúcií z 25 krajín Európy, Ameriky a Ázie a odznelo na nej vyše 40 príspevkov, prezentovaných bolo aj 30 posterov.
Trojdňové odborné stretnutie bolo príležitosťou získať nové idey pre výskumnú i aplikačnú sféru v oblasti rozvoja mikro a nano-technológií a vytvorilo neformálny priestor pre diskusie a nadväzovanie nových pracovných kontaktov, uviedla pre TASR členka riadiaceho výboru konferencie, vedecká pracovníčka ÚI SAV Elena Gramatová. "Hlavnými myšlienkami prednášok pozvaných expertov z University of Massachusetts v USA, z Veľkej Británie a z Belgicka boli trendy a problémy vo využívaní súčasných a budúcich technológií z hľadiska výskytu a modelovania defektov a ich testovania, ako aj inovácie návrhových metód pre udržanie kvality, ceny elektronických obvodov a systémov implementovaných v nových technológiách".
Novým prvkom v jedenásťročnej histórii konferencií DDECS (Desing and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems) bolo zorganizovanie študentskej a industriálnych sekcií, o ktoré bol veľký záujem odborníkov z univerzitných, akademických alebo industriálnych inštitúcií. Kvalita príspevkov bola vysoká a potešiteľné je, že ich prednášali väčšinou mladí ľudia, vrátane autorov zo Slovenska - zo Slovenskej technickej univerzity (STU) a zo SAV, vyzdvihla Gramatová.
Z vybraných a recenzovaných príspevkov bol zostavený a vydaný zborník pod garanciou IEEE (Institut of Electrical and Electronics Engineering). Príspevky budú tiež publikované v elektronickej knižnici IEEE eXplore.
